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膜厚测试仪使用需要注意什么事项?

作者: admin 时间:2017-01-18 来源:未知
摘要:膜厚测试仪使用中的一些注意事项: 1.基体金属特性 对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 对于涡流方法,标准片基体金属...

膜厚测试仪使用中的一些注意事项:
1.基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
2.基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后,可以测量。
3.边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
4.曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
5.读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
6.表面清洁度

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