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X射線熒光光譜儀分析深度與樣品厚度

作者: admin 時間:2017-01-18 來源:未知
摘要:X射線熒光光譜儀在物質中的穿透深度與波長有關,波長越短,穿透度越大。波長相同時,物質的平均原子序數越小(輕元素含量高),穿透深度越大。換句話說,樣品所發射的X射線熒光的波長...

X射線熒光光譜儀在物質中的穿透深度與波長有關,波長越短,穿透度越大。波長相同時,物質的平均原子序數越小(輕元素含量高),穿透深度越大。換句話說,樣品所發射的X射線熒光的波長越短,及樣品中的輕元素含量越高,則獲得的試樣深部的信息就越多,或僅包含表面附近的信息,也因此,元素越輕容易受到樣品表面的影響。

                   

   測定短波長X射線時,或者分析主要成分為輕元素時,如果樣品的厚度不夠,即使測定組成相同的樣品,X射線強度也會因樣品厚度不同而變化。Ni箔樣品中的NiX射線熒光強度與試樣厚度的關系曲線。在組成不變的情況下,X射線強度不在隨樣品厚度增加而變化時的厚度稱為無限厚。除了薄膜分析之外,易受樣品厚度影響的典型分析實例是樹脂中的重金屬元素的分析。

   由于被測樣品或元素譜線是否受樣品厚度影響對樣品制備方法和檢測條件的確定有著很大的影響,要進行高精度分析,就應事先對此進行檢查。

   使用X射線熒光光譜儀在對樹脂中重金屬元素的檢測分析中,因元素不同,可能需要幾厘米的樣品厚度。可是,如此厚的樣品制備是不現實的,如果元素含量高,可考慮使用L線替代K線,或使用M線替代L線,使用這些長波長譜線可以消除厚度效應。但是對于μg/g級別含量的微量元素分析而言,因靈敏度的原因,必須使用短波長波的譜線。此時,在制備樣品時,就必須使用樣品的厚度一致。

   此外,在樹脂分析中,通過校正樣品厚度因此的誤差進行定量分析的方法已經進行了多方面的研究,也有一些報道。可是實際分析中常常必須校正共存元素的影響。因數學校正也是有誤差的,在制備樣品時應盡量避免厚度校正,這有利于減少誤差。

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